北京科技大学

617 晶体光学考试大纲

一、考试性质与范围

《晶体光学》是地质学专业硕士研究生的入学专业基础考试课程。主要考查学生对《晶体光学》基本概念和基本原理的掌握，以及是否具备运用偏光显微镜，在单偏光系统、正交偏光系统和锥光(聚敛偏光)系统下观察和鉴定透明矿物晶体光学性质的基本能力。考试范围包括晶体光学基础、光率体和光性方位、偏光显微镜原理与调节，以及单偏光、正交偏光和锥光(聚敛偏光)系统下晶体的光学性质与测定方法。

二、考试基本要求

考试题目类型因年而异，包括名词解释、选择、填空、判断正误、公式推导、作图、简答和分析论述等不同形式。

考生需要携带铅笔、橡皮、直尺、圆规和量角器。

三、考试形式与分值

本课程由学校自行命题，全国统一考试。采用闭卷笔试形式，考试时间为180分钟，满分为150分。

四、考试内容

1. 晶体光学基础

(1)光的性质与传播;(2)自然光和偏光;(3)光的折射与全反射;(4)折射率与折射率仪;(5)光的双折射;(6)一轴晶和二轴晶

2. 光率体和光性方位

(1)光率体;(2)一轴晶光率体;(3)二轴晶光率体;(4)光率体的主要参数;(5)光性方位

3. 偏光显微镜原理与调节

(1)偏光显微镜的构造;(2)偏光显微镜的光学系统;(3)偏光显微镜的调节;(4)薄片的制作

4. 单偏光系统下晶体的光学性质

(1)形态;(2)解理;(3)颜色;(4)多色性;(5)吸收性;(6)边缘;(7)贝克线;(8)糙面;(9)突起

5. 正交偏光系统下晶体的光学性质

(1)消光现象;(2)消光类型与消光角;(3)干涉原理;(4)干涉色;(5)干涉色级序的确定;(6)补色原理与补色器;(7)延性;(8)双晶

6. 锥光(聚敛偏光)系统下晶体的光学性质

(1)锥光(聚敛偏光)系统;(2)一轴晶的干涉图;(3)二轴晶的干涉图;(4)光性

7. 晶体光学应用

(1)单偏光系统下的性质测定：包括晶形、颜色或多色性、突起与糙面、解理及解理夹角等;

(2)正交偏光系统下的性质测定：包括最高干涉色、最大双折射率、消光类型及消光角、延性符号、多色性和吸收性公式、异常干涉色等;

(3)锥光(聚敛偏光)系统下的性质测定：包括按干涉图类型确定矿物的轴性、测定光性符号、估计光轴角大小等